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Mesure

Ref : SURF01

Métrologie des surfaces : COFFMET SURF

Métrologie de surface pour des décisions sécurisées et une communication inter-divisions rentable

Présentation de la formation

Objectifs pédagogiques

  • Situer les informations dans les normes d’états de surfaces 2D et 3D
  • Décomposer une spécification d’état de surface 2D ou 3D
  • Apprécier et traduire des résultats de mesures
  • Examiner et interpréter des profils 2D ou surfaces 3D à travers certains paramètres

Méthodes pédagogiques

Méthode pédagogique alternant théorie, exercices en fin de module et démonstrations sur logiciels et appareils

Compétences visées

Intégrer la métrologie des surfaces selon les normes internationales

Moyens d'évaluation

Quiz de fin de module + examen de fin de formation

Profil du formateur

Formateur expert dans la mesure des Etats de Surfaces, unique formateur accrédité par AUKOM pour animer cette formation en France

Personnel concerné

Techniciens de mesure de production, ingénieurs de production, développeurs, ingénieurs concepteurs, responsables AQ

Prérequis

Aucun prérequis technique

Le programme de la formation

  • Fondamentaux et historique
    • Test de l’ongle
    • Méthode du palpeur
    • Surveillance de la production
  • Appareils de mesure et capteurs
    • Palpeurs tactiles et optiques
  • Filtres et longueurs d’onde de coupure
    • Introduction au filtrage
    • Passe-haut, Passe-bas, Passe-bande
    • Longueurs d’onde de coupure λc, λs, λf
    • Analyse de Fourier
    • Analyses spécifiques, types de filtres et autres applications du filtrage numérique
  • Mesure
    • Choix de l’appareil de mesure
    • Préparation de l’appareil et emplacement de la mesure
    • Règles d’acceptation des tolérances
  • Paramètres 2D (ISO 21920)
    • NF EN ISO 21920 : les changements de la nouvelle norme
    • NF EN ISO 4287 : anciens et nouveaux paramètres
  • Spécification
    • Spécification ISO 1302, VDA 2005 et ISO 21920- 1
    • Délimitation des imperfections de surface
  • Étalonnage
    • Ajustage, qualification et étalonnage des appareils de mesure
  • Nouveautés de l’ISO21920
    • Motivation des nouvelles normes de profil
  • Paramètres 3D (ISO25178)
    • Séquence de mesure surfacique
    • Filtrage de mesure surfacique
    • Paramètres 3D
    • Différence entre rugosité de profil et de surface
  • Méthode des motifs ISO12085
    • Conditions de mesure par la méthode des motifs et applications
  • Examen
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