Créé le : 03/08/2009
Avec l'introduction des nouvelles technologies, et face à la nécessité d'accroître la qualité des produits ainsi que la productivité, les systèmes de production sont devenus de plus en plus complexes et vulnérables aux défauts. Depuis plusieurs années, la problématique du contrôle de ces systèmes en présence de défauts est une des préoccupations de la communauté scientifique.
La présente note de veille rappelle la problématique de la commande des systèmes industriels en présence de défauts et fait une présentation non exhaustive des moyens actuellement étudiés et développés dans les laboratoires de recherche. L'objectif est la sensibilisation aux méthodes énumérées dont l'étude plus détaillée et l'implémentation pourraient apporter une valeur ajoutée certaine dans le cadre du développement de composants et de produits mécatroniques.