
Créé le : 04/09/2018
La 18ème édition du Congrès International de Métrologie, organisé tous les 2 ans par le Collège Français de Métrologie, s’est déroulée à Paris du 19 au 21 septembre 2017, en conjonction avec le Salon ENOVA dont il constitue le prolongement spécialisé en technologies de mesure, de la R&D aux utilisations industrielles les plus variées. L’objectif de ces trois jours de conférences et d’exposition, destinés aux industriels, praticiens, chercheurs et représentants des organismes nationaux et internationaux, est de présenter les évolutions de la métrologie et ses applications dans l’industrie et de valoriser la mesure comme outil innovant d’amélioration des processus et de la Qualité dans l’Entreprise. Le bilan 2017 est très positif, avec près d’un millier de participants en provenance d’une cinquantaine de pays, et une remarquable croissance de la partie exposition regroupant plus de 80 stands d’exposants; Sommaire: Le Congrès CIM 2017 – Organisation et déroulement ; Le programme en détail ; Les thématiques émergentes ; Pour aller plus loin - Références et liens associés.