Créé le : 03/08/2009
Le contrôle simultané de la nature et de l'épaisseur des couches de combinaison de pièces nitrurées met généralement en ?uvre un contrôle destructif de l'épaisseur et un contrôle de la structure par rayons X. Il est désormais possible de coupler les deux par analyse en diffraction de rayons X : l'analyse par diffraction X en dispersion d'énergie que nous utilisons quotidiennement pour les dosages quantitatifs de phases est un outil très performant dont nous avons étendu la fonction à la détermination des épaisseurs de phases disposées en strates à la surface des pièces. Des résultats très prometteurs ont été obtenus pour l'analyse des couches de combinaison en nitruration : il est maintenant possible de contrôler totalement ces couches sans détruire la pièce, en quelques minutes. Cette technique s'applique désormais pour déterminer les épaisseurs de dépôts en tout genre à la surface de matériaux cristallins, à condition que l'orientation préférentielle des couches superficielles ne soit pas excessive.
Un exposé a été présenté sur ce sujet aux journées franco?allemandes ATTT-ATW sur la Nitruration, 10 au 12 juin 2002 à Aix la Chapelle.