Le Cetim vous accueille à Saint-Etienne le 17 septembre 2026 pour vivre une journée Cetim Experience dédiée à la métrologie dimensionnelle !
Notre ambition : vous apporter les clés pour répondre aux enjeux actuels :
- Réduire les non-qualités et gagner en compétitivité
- Fabriquer au juste nécessaire (réduction des coûts), en réduisant la sur-qualité
- Optimiser les temps de fabrication (traitement statistique, auto-correction…)
- Être conforme aux exigences des clients (maîtrise des incertitudes de mesure)
- Exploiter la data pour contribuer au remanufacturing/réemploi
8h00 : Accueil
8h15 : Introduction
8h30 : Enjeux de la métrologie et mission du Cetim - Stéphane Roussel (Cetim)
8h45 : Dernières évolutions de la cotation ISO GPS : quelles opportunités - Anthony Roux (Cetim)
9h30 : Améliorer la confiance dans vos résultats de mesure - Julien Labarthe-Vacquier (EDF) et Florence Goutagneux (Cetim)
10h30 : Pause
10h45 : Qualification des logiciels de métrologie - Thierry Coorevits (ENSAM)
11h15 : Nos axes R&D pour accompagner vos développements : Métrologie robotisée, caractérisation avancée des surfaces, métrologie sur machine de production, digitalisation et valorisation de la donnée - Romain Brault et Stéphane Roussel (Cetim)
12h00 : Pause déjeuner
13h30 : Ateliers
- MMT : nouvelle machine Grandes dimensions Leitz
- Logiciel VCMM2 sur machine Zeiss G2
- Etat de surface et caractérisation de surfaces
- Post-offline / Modèles 3D spécifiés
16h00 : Bilan - Lionel Meleton (Cetim)
Agenda
