Mesure de l’épaisseur des revêtements conducteurs – SIDERUS pour TTH phase 2

Créé le : 22/08/2019

Pour de nombreux secteurs d’activité, la mesure des épaisseurs de revêtement représente un problème. S’il existe des méthodes répondant à la plupart des cas rencontrés – certaines précises, d’autres plus indicatives –, d’autres sont laissés pour compte, tels les revêtements métalliques, de type carbure de tungstène. Cette étude (S1994) a donc pour but de proposer une méthode de mesure ultrasonore de ces types de matériaux, se traduisant par le tracé d’une courbe de réponse en fréquence en fixant des limites, notamment en termes de rayon de courbure. Après la mise au point d’un prototype, une version plus industrielle a été développée sous LabVIEW. Baptisée SIDERUS, cette version a permis de mener une étude à partir d’un « plan d’expérience » en faisant varier le couple de matériaux, le rayon de courbure et l’état de surface du revêtement dont les résultats ont permis de confirmer les conclusions déjà énoncées dans une phase amont.

Auteur : F. ZHANG pour J. RIVENEZ, Cetim